X-ray microscopy and x-ray microanalysis
Autor Principal: | |
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Formato: | Libro |
Datos de publicación: |
Amsterdam :
Elsevier,
1960.
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Acceso en línea: | Consultar en el Cátalogo |
Notas: | Proceedings of the secon international symposium, by...,V. Cosslett and H. Pattee |
Descripción Física: | x, 542 p. : il. ; 16 cm. |