Microscopía electrónica por el método de réplicas, de Al 99,99 % recocido y recocido y deformado por el impacto
| Autor Principal: | |
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| Otros autores o Colaboradores: | |
| Formato: | Libro |
| Datos de publicación: |
Buenos Aires :
Comisión Nacional de Energía Atómica,
1962.
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| Series: | Informe ;
69 |
| Acceso en línea: | Consultar en el Cátalogo |
| Descripción Física: | 8 p. : il. ; 21 cm. |