Real world Java EE patterns

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bien, Adam
Formato: Libro
Lengua:inglés
Datos de publicación: Lexington : [S.n.], c2009
Temas:
JAVA 2 PLATFORM ENTERPRISE EDITION - J2EE
PATRONES
Acceso en línea:Consultar en el Cátalogo
Descripción Física:279 p. ; 25 cm.

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