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  1. 1

    Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems

    New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  2. 2

    Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

    New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  3. 3

    Integration of Functional Oxides with Semiconductors por Demkov, Alexander A.

    New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  4. 4

    Design Exploration of Emerging Nano-scale Non-volatile Memory por Yu, Hao

    New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  5. 5

    Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits por Liu, Xiao

    Heidelberg : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  6. 6

    Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies por Sun, Guangyu

    Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  7. 7

    MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch por Srivastava, Viranjay M.

    Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  8. 8

    Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs por Noia, Brandon

    Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  9. 9

    Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System por Samukawa, Seiji

    Tokyo : Springer Japan : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  10. 10

    Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization / por Richter, Detlev

    Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  11. 11

    Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications por Franco, Jacopo

    Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro
  12. 12

    Semiconductor Technologies in the Era of Electronics por Kang, Yong Hoon

    Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer, 2014.
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    Libro

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