Real world Java EE patterns

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bien, Adam
Formato: Libro
Lengua:inglés
Datos de publicación: Lexington : [S.n.], c2009
Temas:
Acceso en línea:Consultar en el Cátalogo
Descripción Física:279 p. ; 25 cm.
Tabla de Contenidos:
  • A brief history of J2EE
  • Understanding Java EE core concepts
  • Rethinking the business tier
  • Rethinking the integration tier
  • Infrastructutal patterns and utilities
  • Pragmatic Java EE Architectures.